电子技术论坛
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MOS场效应晶体管沟道内氧化物-硅界面对实测载流子迁移率的影响
2021-12-14 -
栅极绝缘物内的离子电导对MOS器件电压特性的影响
2021-12-13 -
辐射感应氧化物电荷和表面态对MOS晶体管特性的影响
2021-12-13 -
MOS管热氧化过程中硅内杂质再分布及其过程影响分析
2021-12-10 -
浅析高温负偏压不稳定性及其MOS管电压特性的影响
2021-12-10 -
解析硅-二氧化硅系统固定正界面电荷密度Qss基本特性
2021-12-09 -
分析快表面态及其对MOS场效应管器件电特性的影响
2021-12-09 -
详解表面态及其对MOS场效应器件电特性的影响分析
2021-12-08 -
温度变化对MOS场效应晶体管电压特性的影响分析
2021-12-08 -
MOS管外加栅压对漏二极管击穿电压影响及解决方案
2021-12-07